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| Registros recuperados : 66 | |
| 2. |  | LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Caracterization of adhesion force, of two soil minerals particles (mica and siicon), in the nanoscale, using atomic force microscopy (AFM). Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. 1 CD-ROM.| Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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| 7. | | BORATO, C. E.; LEITE, F. L.; OLIVEIRA JR, O. N.; MATTOSO, L. H. C. Efficient taste sensors made of bare metal electrodes. Sensor Letters, University Park, Pennsylvania, v. 4, n. 2, p. 1-5, 2006.| Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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| 11. | | HERRMANN, P.; LEITE, F. L.; MATTOSO, L. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. Atomic force spectroscopy as a tool to study the electrical conductivity of polyaniline and derivatives. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOSCIENCE AND TECHNOLOGY - NANO, 9., 2006, Basel. Final Program... Basel, 2006. Entrada padronizada: HERRMANN, P. S. P.
Entrada padronizada: MATTOSO, L. H. C.| Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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| 15. | | STEFFENS, C.; SANDOVAL, R. D.; MANZOLI, A.; LEITE, F. L.; FATIBELLO, O.; HERRMANN, P. S. P. Investigation of a sensitive layer of polyaniline as coating for microcantilever as a nanosensor. In: NANOMECHANICAL SENSING WORKSHOP-NMC, 9., Bombay Mumbai, India. Proceedings... Bombay: National Program on Micro and Smart Systems - NPMASS, Indian Nanoelectronics Users Program - INUP, 2012. p. 78-79.| Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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| 17. | | STEFFENS, C.; SANDOVAL, R. D.; MANZOLI, A.; LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Sensores de microcantilever revestidos com polímeros condutores, utilizado na detecção de umidade relativa. In: WORKSHOP DA REDE DE NANOTECNOLOGIA APLICADA AO AGRONEGÓCIO, 6., 2012, Fortaleza. Anais... São Carlos: Embrapa Instrumentação; Fortaleza: Embrapa Agroindústria Tropical, 2012. p. 79-81. Editores: Maria Alice Martins, MOrsyleide de Freitas Rosa, Men de Sá Moreira de Souza Filho, Nicodemos Moreira dos Santos Junior, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso.| Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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| 19. | | LEITE, F. L.; MANZOLI, A.; ALVES, W. F.; HERRMANN P. S. P.; MATTOSO, L. H. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. N. Estimation of molecular weight and polydispersity in conducting polymers using single-molecule force spectroscopy. In: ENCONTRO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE PESQUISA EM MATERIAIS - SBPMat, 7., 2008, Guarujá; BRAZILIAN MRS MEETING, 7., 2008, Guarujá. Abstracts... Rio de Janeiro: SBPMat, 2008. não paginado. 1CD-ROM. Entrada padronizada: HERRMANN JUNIOR, P. S. de P.| Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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| 20. | | LEITE, F. L.; SIMÕES, M. L.; HERRMANN, P. S. P.; MARTIN NETO, L.; MATTOSO, L. H. C.; OLIVEIRA, O. N. Evidence of conducting islands on polyaniline films: charge nanocarriers. In: ENCONTRO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE PESQUISA EM MATERIAIS - SbpMat, 6., 2007, Natal; BRAZILIAN MRS MEETING, 6., 2007, Natal. Abstracts... Natal: SBMat, 2007. 1 CD-ROM. Não paginado.| Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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| Registros recuperados : 66 | |
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 | Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Instrumentação. Para informações adicionais entre em contato com cnpdia.biblioteca@embrapa.br. |
Registro Completo
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
09/02/2001 |
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Data da última atualização: |
11/04/2008 |
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Autoria: |
LEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; HERRMANN, P. S. P. |
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Título: |
Medidas de curva de força por microscopia de força atômica (MFA) para caracterizar água adsorvida em sólidos. |
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Ano de publicação: |
2000 |
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Fonte/Imprenta: |
In: SIMPÓSIO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DO CAMPUS DE RIO CLARO - SIC, 4., 2000, Rio Claro. SIC 2000. Rio Claro: UNESP-PET/SESU, 2000. p. 88. |
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Idioma: |
Português |
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Conteúdo: |
Utilizamos um microscopio de forca atomica (MFA) para medir as forcas de adesao de agua adsorvida sobre substratos solidos, na escala nanometrica. Tais forcas sao obtidas a partir de curvas que registram o deslocamento D da haste em relacao a variacao da posicao z do piezoeletrico.Estas curvas sao registradas utilizando o MFA. Inicialmente desloca-se a ponta da agulha em direcao a amostra. Assim que a agulha, confeccionada em nitreto de silicio (SI N), toca o liquido, ela sofre uma deflexao vertical negativa (para baixo) devido as forcas capilares (atrativas). Continua-se o processo de aproximacao ate a agulha tocar a superficie do substrato solido. A deflexao passa entao a ser positiva, indicando que a ponta da agulha esta exercendo uma pressao sobre o solido. Durante a passagem da deflexao negativa para positiva, o comportamento no grafico do deslocamento, D, versus distancia, z, e linear, de onde se determina a elasticidade do solido. Iniciando-se o procedimento de afastamento entre a agulha e o solido, o comportamento da curva D x z e revertida ate a agulha se desprender do liquido. Nesta situacao particular, a forca negativa (de atracao) e maxima e igual a forca de adesao entre a agua e a ponta da agulha. curvas de forca, devido ao deslocamento da agulha, foram obtidas para agua adsorvida em superficies de quartzo e mica utilizando uma agulha, com o raio da ponta em torno de 50nm, fixada a um cantilever com constante de mola igual a 0,064N/m, tambem de nitreto de silicio. A partir destas curvas, as quais estao relacionadas as curvas de forca, extraimos informacoes sobre a interacao entre a agulha e o liquido, como forcas de adesao e espessura da camada de liquido adsorvido, e entre a agulha e o substrato, como elasticidade e dureza. MenosUtilizamos um microscopio de forca atomica (MFA) para medir as forcas de adesao de agua adsorvida sobre substratos solidos, na escala nanometrica. Tais forcas sao obtidas a partir de curvas que registram o deslocamento D da haste em relacao a variacao da posicao z do piezoeletrico.Estas curvas sao registradas utilizando o MFA. Inicialmente desloca-se a ponta da agulha em direcao a amostra. Assim que a agulha, confeccionada em nitreto de silicio (SI N), toca o liquido, ela sofre uma deflexao vertical negativa (para baixo) devido as forcas capilares (atrativas). Continua-se o processo de aproximacao ate a agulha tocar a superficie do substrato solido. A deflexao passa entao a ser positiva, indicando que a ponta da agulha esta exercendo uma pressao sobre o solido. Durante a passagem da deflexao negativa para positiva, o comportamento no grafico do deslocamento, D, versus distancia, z, e linear, de onde se determina a elasticidade do solido. Iniciando-se o procedimento de afastamento entre a agulha e o solido, o comportamento da curva D x z e revertida ate a agulha se desprender do liquido. Nesta situacao particular, a forca negativa (de atracao) e maxima e igual a forca de adesao entre a agua e a ponta da agulha. curvas de forca, devido ao deslocamento da agulha, foram obtidas para agua adsorvida em superficies de quartzo e mica utilizando uma agulha, com o raio da ponta em torno de 50nm, fixada a um cantilever com constante de mola igual a 0,064N/m, tambem de nitreto de silic... Mostrar Tudo |
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Palavras-Chave: |
Evento cientifico; Instrumentacao; MFA; Microscopia de forca atomica; Piezoeletrico. |
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Thesagro: |
Adsorção. |
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Thesaurus NAL: |
atomic force microscopy; instrumentation. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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Marc: |
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